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dc.contributor.advisorDe Varona Ortega, Omar Enrique
dc.contributor.authorRíos Jiménez, Mario
dc.contributor.otherGrado en Física
dc.date.accessioned2024-06-05T20:09:47Z
dc.date.available2024-06-05T20:09:47Z
dc.date.issued05/06/2024 21:00
dc.identifier.urihttp://riull.ull.es/xmlui/handle/915/37664
dc.format.mimetypeapplication/pdf
dc.language.isoes
dc.rightsLicencia Creative Commons (Reconocimiento-No comercial-Sin obras derivadas 4.0 Internacional)
dc.rights.urihttps://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/deed.es_ES
dc.subjectláser
dc.subjectsílice
dc.subjectíndice de refracción
dc.titleEstudio del cambio de índice de refracción inducido en SiO2 mediante láser de femtosegundo
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesis


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