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Estudio del cambio de índice de refracción inducido en SiO2 mediante láser de femtosegundo
dc.contributor.advisor | De Varona Ortega, Omar Enrique | |
dc.contributor.author | Ríos Jiménez, Mario | |
dc.contributor.other | Grado en Física | |
dc.date.accessioned | 2024-06-05T20:09:47Z | |
dc.date.available | 2024-06-05T20:09:47Z | |
dc.date.issued | 05/06/2024 21:00 | |
dc.identifier.uri | http://riull.ull.es/xmlui/handle/915/37664 | |
dc.format.mimetype | application/pdf | |
dc.language.iso | es | |
dc.rights | Licencia Creative Commons (Reconocimiento-No comercial-Sin obras derivadas 4.0 Internacional) | |
dc.rights.uri | https://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/deed.es_ES | |
dc.subject | láser | |
dc.subject | sílice | |
dc.subject | índice de refracción | |
dc.title | Estudio del cambio de índice de refracción inducido en SiO2 mediante láser de femtosegundo | |
dc.type | info:eu-repo/semantics/bachelorThesis |