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dc.contributor.authorSanchez, J. L.es_ES
dc.contributor.authorOrtigueira, Manuel D.es_ES
dc.contributor.authorRato, Raul T.es_ES
dc.contributor.authorTrujillo, Juan J.es_ES
dc.contributor.otherIngeniería Informática y de Sistemases_ES
dc.date.accessioned2017-04-19T12:35:05Z
dc.date.available2017-04-19T12:35:05Z
dc.date.issued2014es_ES
dc.identifier.urihttp://riull.ull.es/xmlui/handle/915/4490
dc.descriptionArtículo enviado pero que finalmente no fue publicado.es_ES
dc.description.abstractEn este artículo se lleva a cabo una revisión de la EMD desde el punto de vista de las aplicaciones. Se abordan dos problemas importantes y las soluciones propuestas.es_ES
dc.description.abstractIn this paper a look into EMD from the application point of view is done. Two important problems are faced and solutions proposed: a) the removal of false components and b) the increase in number of IMFs and computational time in long signals. To detect which IMFs are not presented in the original signal we propose an algorithm based on the spectral inversion and correlation. For decomposing very long signals a sequential sifting on segments of the signal in a sliding window is proposed.es_ES
dc.format.mimetypeapplication/pdfes_ES
dc.language.isoenes_ES
dc.rightsNo autorizo la publicación del documentoes_ES
dc.titleA new look at the Empirical Mode Decompositiones_ES
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/article


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